羅德與施瓦茨增強了汽車雷達罩測試儀R&S QAR，這是一種用于雷達集成測試的定制解決方案，可以分析和評估雷達罩（車標）和保險杠相對于雷達的兼容性。OEM整車廠和一級供應商通過新的 R&S QAR-K50 單一天線集群測量軟件，以非破壞性的、二維的方式進行測量，并能得到非常接近于以矢量網絡分析儀 （VNA） 和準光學 （QO） 裝置所獲得的測量結果。此外，用戶還將從 R&S QAR的直觀操作理念中獲益。
R&S QAR 是一套適用于雷達罩和保險杠的測試與驗證的毫米波成像系統。得益于其出眾的性能、速度、質量以及直觀的操作，該系統成為一套完美的工具，應用范圍覆蓋從76 GHz到81 GHz的雷達罩材料和集成測試，包括從研發、生產到驗證的各個環節。
高空間分辨率是以在入射角方面具有更大的擴展為代價的。典型的雷達傳感器具有一定的視場（FOV），例如全范圍雷達（FRR）是±10度，而短距離雷達（SRR）是±60度。根據材料表征技術，雷達罩的反射參數主要以垂直入射角來定義，因為這些參數可以使用矢量網絡分析儀（VNA）進行測量。R&S QAR-K50軟件選件即基于這個主題。
將R&S QAR提供的結果與使用標準矢量網絡分析儀 （VNA） 和準光學 （QO） 裝置測量的結果進行比較，利用R&S QAR所用的較大孔徑，能夠觀察到并解釋測試對象的某些誤差。
這就是R&S QAR-K50軟件選件發揮效力之處。它會自動檢測材料樣本中的最高反射和測試區域的平均值。反射區域的平均值在 7 秒內即可確定并將測量結果顯示給用戶。此數值與 VNA 的 S11 和 S22 反射測量結果非常匹配。
研發過程中用 VNA 和 QO 裝置進行的測量結果，現在可以直接與R&S QAR的測量結果進行比對。本系統仍然利用微波成像技術，但天線孔徑更小，因此對定位誤差的敏感度較低，比VNA裝置更加適合于生產環境。即使樣品定位稍有公差，R&S QAR-K50軟件也能夠自行檢測正確的測量區域，并為操作員提供光學反饋。現在，R&S QAR將適用于均一性分析的高分辨率圖像（R&S QAR-K10軟件） 與穩健易用的反射測量相結合。以R&S QAR-K50軟件選件所得的測量值，可直接相當于 VNA 在 QO 設置中提供的結果。
R&S QAR-K50是用于單個天線集群測量的軟件選件，可安裝在所有 Windows 10 版本且帶有最新版固件的R&S QAR上，輸入鍵碼即可激活。該選件現在已經可以從羅德和施瓦茨訂購。
