隨著5G/6G通信、毫米波雷達、可穿戴傳感器等技術發展，天線的尺寸越來越小，并逐步向著微型化方向發展，以芯片天線、封裝天線為代表的各類片上天線得到了快速發展和應用。由于異于常規天線的結構和性能特性，片上天線測試過程中面臨著如何穩定饋電、準確獲取空間輻射信號、準確提取出天線性能參數等難題。針對測試難題，電科思儀的片上天線測試系統可以幫助用戶解決測試困擾。
圖1 片上天線測試系統
圖2暗箱內部實物圖
1.基于顯微輔助同步探針饋電技術；由于片上天線和探針都非常小，為了輔助饋電，在片上天線饋電平臺上設計了電子顯微鏡，通過電子顯微鏡的顯示器可以清楚地觀察探針和饋電點位置，如圖3、圖4所示。
圖3 探針饋電
圖4 探針與饋電點實景圖
2.基于自動避障的三維測試技術；由于暗箱空間有限，為了保障饋電平臺安全，片上天線測試系統具有自動避障技術，能夠自動完成片上天線的近場或遠場測試，測試結果如圖5、圖6所示。
圖5 三維立體圖
圖6 強度圖顯示
3.基于低散射結構的減振平臺設計；減振平臺中載片臺用于承載片上天線，采用低損耗、低介電的材料制作，減小電磁反射對測試精度的影響。由于探針是易耗品，比較脆，為了防止機械裝置運動帶來的震動對探針造成損害，減振平臺采用主動式減振基座進行了減振處理，如圖7、圖8所示。
圖7 載片臺
圖8 減振基座
電科思儀研制的片上天線測試系統能夠完成方向圖、增益、極化等參數的準確測試，系統已在國內多家單位得到了應用，取得了滿意效果，為各類片上天線的研制提供了測試保障。
