直調激光器芯片采用控制注入電流的大小來改變輸出光波的強弱，調制速率越來越高，其關鍵參數——頻響的測試必不可少。現有測試方案多是采用多臺儀器搭建系統來應對，存在集成度低、累積誤差大、校準困難等痼疾，且操作復雜、測試效率低，越來越難以滿足激光器芯片研發人員的需求，成為驗證產品質量、制約研發效率的基礎和關鍵環節！
圖1 6433系列LCA（10MHz~26.5/43.5/50/67GHz）
基于6433系列光波元件分析儀(Lightwave Component Analyzer，LCA) ，電科思儀推出了覆蓋不同調制速率（10MHz~26.5/43.5/50/67GHz）的直調激光器芯片頻響的高效測試方案，得到了光通信行業多家公司的應用與好評，主要測試流程如下：
（1）設置射頻參數并進行電路校準：設置如起始頻率、終止頻率、掃描點數、中頻帶寬、端口功率等參數后選擇向導校準，依據被測件進行端口校準類型選擇并選擇適當的校準件，之后按照向導校準步驟逐次連接相應的校準件進行校準，如圖（2）所示；
圖2 校準過程
（2）選定“電光測試”模式并設置光波參數：根據被測件測量需求設置光波長、輸入端口、校準類型以及根據鏈路狀況選擇去嵌入文件；
圖3 LCA電光測試
（3）被測件的鏈路連接：按圖4所示方案開展光/電線纜的連接；
圖4 直調激光器芯片測量連接方案
（4）測量和結果分析：將測量曲線類型選擇為“S21”，點擊“開始”后觸發測量，待掃描完成后通過“參考光標”和“?光標”來進行-3dB帶寬的跟蹤。
圖5 頻響測量結果曲線
區區四步就可以高效獲得直調激光器的頻響曲線，包括關鍵的-3dB帶寬分析結果。此外，6433LCA還具備增益、損耗、傳輸系數、反射系數、輸入阻抗、輸出阻抗、群時延等參數的測量功能，既支持界面化操作,也支持SCPI指令的程控化操作，免去了分離式搭建測試系統的復雜與繁瑣，保障了測量精度和可靠性，提升了一倍以上的測試效率。
