在電子電路中，溫度一直是一個非常重要的參數，絕大多數器件的可靠性都和其溫度特性相關。哪怕是極其微小的器件溫度變化，都可能對電子電路的運行造成很大的影響，而過熱則很大概率引發主板故障。如何在體積日漸變小的電子元器件中精準發現溫度異常？非接觸檢測的熱像儀是個不錯的選擇！

紅外熱像儀應用在電子行業中，可以用來實現集成電路檢測，如低壓電路板溫度檢測、高溫箱電路板設計檢測；實現半導體材料缺陷檢測，如太陽能電池板缺陷檢測、硅錠質量檢測；實現芯片級微距檢測，如LED芯片檢測；實現電子電氣設備檢測，如激光器質量檢測、光纖質量檢測等。

熱像儀：及時發現電路板設計的故障

在電路板設計的過程中，為保證電路板工作順利進行，設計人員需要對電路板中的電子元器件進行溫度檢測，觀察元器件的溫度負載情況，以免出現短路、斷路和接觸不良等情況。

在電路發生短路的過程中，電路板上肯定會有局部溫度過高的情況出現，斷路則會產生局部的溫度會比其他地方低的情況，所以利用這一點就很容易通過引入紅外熱像儀判斷電路的故障點。

用戶可選擇使用FLIR T560高清紅外熱像儀，640×480的紅外分辨率加FLIR專利技術MSX®(專利號：201380073584.9）和專有自適應濾波算法，可清晰顯示電路板上元器件溫度的分布情況，如果需要進一步確認，還能通過手動精準調焦，清晰地觀察高溫點故障元器件類別和位置。

微距模式：幫助看清小體積器件的溫差

現如今電子產品尺寸日益微縮，最常見的表面貼裝式PCBA部件的尺寸范圍可從0603(1.6mm×0.8mm)到最小的0201(0.6mm×0.3mm)。普通的熱像儀也許很難分辨其細小的溫差，為精確測量這些部件的溫度，您需要空間分辨率更加精細的檢測。如果選購一款如此極致分辨率的熱像儀費用會很高，但菲力爾可提供更優惠的解決方案！

微距模式下的PCBA紅外熱成像

配備標準24?鏡頭和微距模式的FLIR T560專業紅外熱像儀可以輕松達到71μm的光斑尺寸，且無需更換鏡頭。在此條件下，T560能夠針對尺寸為1.6mm×0.8mm的微小零部件進行精確的溫度測量以及紅外熱成像。

FLIR的微距模式是一項創新功能，能夠幫助研發、質量保證以及其他專業人員實現PCBA及其他電子產品部件測試的靈活性。搭配標準24?鏡頭可以用于檢測更大范圍或者整個PCBA。一旦發現熱點或者更小范圍的待測區域，啟用微距模式可以實現更深入的檢測及熱成像分析，且無需更換鏡頭。

專業軟件：簡化工作流程

在電子電路研發設計中，引入紅外熱像儀，對電子電路功耗設計和研究、散熱效果分析、PCB布局優化、產品質量檢測等方面有著不小的助力，但大量檢測結果的整理，對于研發人員來說也是不小的工作量，對此菲力爾設計了專門的分析和報告軟件——FLIR Research Studio。

FLIR Research Studio有一個混合選項，可以將熱圖像和可見光圖像相結合，用一個簡單的滑塊通過溫度分界線調整可見光與紅外的比例，直到它剛好適合您的需要。

FLIR Research Studio能為各種研發應用場景提供強大的記錄和分析功能。可同時顯示、記錄和評估多個FLIR熱像儀的數據，讓您能夠快速解讀和理解關鍵信息。它還具有多語言和多平臺支持 (Windows、MacOS、Linux)，可改善團隊成員之間的協作、提高效率，并有助于減少因翻譯不佳而產生錯誤解讀的可能性。

紅外熱像儀通過對物體表面的熱(紅外電磁輻射)分布成像與分析，能夠快速發現物體的熱缺陷。目前已廣泛應用于檢測PCB電路板、芯片、LED、新能源電池與節能、充電樁等各種電路和設備，是電子工程師做熱分析的必備工具。

FLIR T560專業紅外熱像儀

搭配Research Studio專業軟件

可在電子電路設計測試的各個流程中

提供簡便、快捷、精準的檢測結果

為電子、航空航天、生命科學等

廣泛應用領域的研究人員和工程師

提供極大的便利