EMI預(yù)兼容測試選件
幾乎任何用于銷售電子產(chǎn)品都需進行電磁兼容性（EMC）測試，必須確保產(chǎn)品符合監(jiān)管機構(gòu)規(guī)定的規(guī)格標準。
EMC測試必要性
聯(lián)邦通信委員會（FCC）規(guī)定了電磁兼容性測試的規(guī)則。CISPR和IEC測試定義也在全球范圍內(nèi)被廣泛使用。全面的合規(guī)性測試可能很昂貴，對產(chǎn)品進行全面合規(guī)性測試還需要專門的測試環(huán)境。如果在合規(guī)性測試中發(fā)現(xiàn)任何問題，設(shè)計人員需要回到工程部門進行分析和可能的重新設(shè)計。這可能會導(dǎo)致產(chǎn)品發(fā)布延遲和設(shè)計成本明顯增加。
EMI預(yù)兼容測試方案
作為EMC測試的一部分，EMI測試在產(chǎn)品設(shè)計早期階段的介入是必要的。
以O(shè)WON的方案為例，主要由
1、OWON全系列頻譜分析儀
2、EMI選件
3、ORF5060近場探頭
提供了快速預(yù)兼容測試系統(tǒng)方案。通過近場測量可以很方便的進行定性的診斷測量，發(fā)現(xiàn)電磁輻射大的區(qū)域，對潛在的問題進行定位。
1. OWON頻譜分析儀
OWON全系列頻譜儀具有便捷的操作界面和簡潔的顯示風(fēng)格，采用成熟的數(shù)字中頻技術(shù)，最小分辨率帶寬(RBW)低至 1Hz，標配前置放大器，顯示平均噪聲電平(DANL)達-161 dBm/Hz，具備微小信號測量能力，全幅度精度<0.7 dB，測量結(jié)果精確可信。
2. EMI預(yù)兼容測試軟件
OWON頻譜分析儀可通過儀器升級獲得
EMI預(yù)兼容測試軟件！！！
EMI模式包含掃描、測量、計量三個流程，可以靈活配置流程。EMI測量模式提供了完整的CISPR限值和檢波器，包括準峰值、峰值、有效值平均。工程師可加載EMI 國際標準法規(guī)限制線，用戶也可以自定義限制線。還可以使用標準EMI分辨率帶寬(200 Hz、9 kHz、120 kHz和1 MHz)。
EMI 濾波器仍是準高斯形狀，只是其脈沖帶寬定義為-6dB，相比于傳統(tǒng)的高斯濾波器具有更好的頻率選擇性。準峰值檢波是一種快速充電，慢速放電的檢波器，時間加權(quán)的檢波方式，它將時間上間斷出現(xiàn)的干擾信號進行幅度的加權(quán)平均作為結(jié)果顯示。
這樣即使幅度很大但是出現(xiàn)概率很低的干擾信號可能得到較低的準峰值檢波結(jié)果，而幅度很小但是出現(xiàn)概率很高的干擾信號也有可能得到較高的準峰值檢波結(jié)果，這種加權(quán)比較適合電子設(shè)備對干擾信號的反應(yīng)。但是準峰值檢波的平均過程測試時間長，并不利于日常的診斷。
因此在進行 EMI 預(yù)兼容測試時，可以先用峰值檢波快速發(fā)現(xiàn) EMI 問題頻點，然后針對這些峰值點專門進行準峰值測量，以節(jié)省測試時間。
（EMI界面）
（內(nèi)置國際標準法規(guī)限制線）
選擇EMI模式可在儀器上通過觸摸屏、鼠標和鍵盤進行操作。這使報告存檔、掃描運行以及跳轉(zhuǎn)到感興趣的信號并立即調(diào)試變得容易。右側(cè)條形顯示給定頻率的實時測量值。此程序可在掃描后快速移動到感興趣的信號，它可以在頻率上實時測量最多3個檢波器的數(shù)據(jù)，為調(diào)試和進一步分析提供便捷。
3.ORF近場探頭
對于輻射發(fā)射，使用近場磁性（H場）探頭拾取通過探頭末端小環(huán)路傳播的發(fā)射。這些磁性探頭只能捕獲探頭附近的信號，因此被稱為“近場”探頭。這使得它們非常適合基本的可視化，因此工程師可以通過將探頭掃過區(qū)域快速掃描新的電路板或外殼來查找問題。較大的探頭雖能提升掃描速度，但相應(yīng)的空間分辨率會有所降低。
在此過程中，探頭充當(dāng)天線角色，負責(zé)捕獲接縫、開口、引腳及其他可能產(chǎn)生RF輻射的元件所釋放的信號。為確保測試的全面性，對所有電路元件、連接器、旋鈕、箱體開口及接縫的徹底掃描是不可或缺的。通常對于此類EMI可視化測試，無需使用屏蔽室或屏蔽裝置，因為探頭主要記錄的是極為接近的信號。工程師可通過調(diào)整探頭的方向及位置，來識別發(fā)射源。
（天線補償參數(shù)）
內(nèi)置針對天線，LISN，電纜的頻響補償，可選擇對應(yīng)的天線，用戶也可自定義頻響補償。通過OWON的EMI方案可以簡便快速預(yù)兼容測試，這會最大限度地減少產(chǎn)品開發(fā)時間，降低設(shè)計成本。
ORF5060 近場探頭
END
