測量誤差是指測量結(jié)果與被測量的真實值之間的差異，測量誤差越大，測量結(jié)果的可靠性越低。本文將探討示波器設(shè)置不當時誤差是如何產(chǎn)生的、其典型的表現(xiàn)，以及如何使用示波器設(shè)置減小測量誤差。

示波器的測量誤差

示波器測量誤差可能由硬件限制、設(shè)置不當、環(huán)境干擾、人為操作等因素引起。以下是示波器誤差產(chǎn)生的原因及其典型表現(xiàn):

設(shè)置與操作誤差

通過系統(tǒng)分析誤差來源以及表現(xiàn)，可針對性優(yōu)化測量方案，提升測量精度。

示波器基礎(chǔ)設(shè)置優(yōu)化

垂直系統(tǒng)（電壓）：

·選擇合適量程：信號幅度占屏幕60%~80%（避免過小量化誤差或過大截斷）。

·關(guān)閉“帶寬限制”（除非需抑制高頻噪聲）。

水平系統(tǒng)（時基）：

·時基檔位應(yīng)使信號周期顯示1~2個完整周期（如1MHz信號用500ns/div）。

·啟用“高分辨率模式”（降低噪聲，犧牲帶寬）。

觸發(fā)設(shè)置

觸發(fā)模式選擇：

·邊沿觸發(fā)：適用于周期性信號（如方波、正弦波）。

·脈寬觸發(fā)：捕捉異常脈沖。

·觸發(fā)電平調(diào)整：

·將觸發(fā)電平設(shè)置在信號幅度的50%處（避免誤觸發(fā)）。

操作案例

不同衰減比下本底噪聲的大小

圖一為示波器通道一未接任何探頭，衰減比選擇1X檔，懸空的狀態(tài)下，選擇垂直量程為1.00mV/div，測得本底噪聲為0.72mV  Vpp。

圖二為示波器通道一未接任何探頭，衰減比選擇1000X檔，懸空的狀態(tài)下，選擇垂直量程為1.00V/div，測得本底噪聲為800mV  Vpp。

造成這種本底噪聲放大的原因是衰減器噪聲疊加效應(yīng)：示波器的本底噪聲主要由衰減器和前置放大器產(chǎn)生，1000:1衰減比下信號被大幅衰減后，示波器 需要通過增益補償恢復信號幅度，此過程會將衰減器的本底噪聲同步放大，

同樣的情況下，選擇不同的探頭衰減比就會使得本底噪聲有很大的變化，本底噪聲影響系統(tǒng)測量的結(jié)果，這是設(shè)置所帶來的不可避免的系統(tǒng)測量誤差。

知道這個對我們的測量有什么幫助呢？假設(shè)我手上有一個衰減比為100：1、1000：1的探頭，我不知道被測信號的一個電平范圍，那么可以優(yōu)先選用衰減比高的擋位（1000：1）進行測量，測量結(jié)果顯示被測信號在衰減比100：1在量程范圍內(nèi)，那么就選擇100：1的衰減比，以此來減小本底噪聲，使得測量結(jié)果更準確。

結(jié)論：在量程范圍內(nèi)，選擇較小的衰減比本底噪聲也會減小，可以在一定程度上減小測量誤差。

操作案例

不同量程下本底噪聲的大小

圖三為示波器通道一未接任何探頭，衰減比選擇1X檔，懸空的狀態(tài)下，選擇垂直量程為1V/div，測得本底噪聲為800mV  Vpp。

圖四為示波器通道一未接任何探頭，衰減比選擇1000X檔，懸空的狀態(tài)下，選擇垂直量程為10.0kV/div，測得本底噪聲為400V  Vpp。

造成以上結(jié)果的主要原因是垂直分辨率限制：示波器的垂直分辨率由ADC的位數(shù)（如8位、12位）決定。若量程過大，信號的動態(tài)范圍占用的ADC量化等級減少，導致幅值細節(jié)丟失。

如圖四：8位ADC將量程分為256級。單格量程為10kV，總量程為100kV，每級100kV/256≈390V，實際上為400V，本底噪聲在1000X擋位下為800mV，占用1級，受噪聲以及分辨率的影響，測量結(jié)果顯示Vmax為0V或者400V；顯示Vmin為0V或者-400V都是有可能的。

受分辨率的限制，垂直量程越大，ADC所測量判讀的電壓越大，這會直接影響測量精度。

結(jié)論：示波器的ADC（模數(shù)轉(zhuǎn)換器）分辨率有限，使用大量程測小信號會量化誤差，導致幅度測量不準確。

總結(jié)

衰減比選擇不當或者垂直量程選擇不當都可能會量化誤差，導致誤差偏高。適當?shù)氖静ㄆ髟O(shè)置可以減小測量誤差。

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