隨著社會對流量的爆發式需求，光通信速率已經步入1TBit/s門檻，光通信系統中光器件的波長相關損耗（WDL）和偏振相關損耗（PDL）的影響不容忽視，如何降低測試成本和難度，增加測試速度和精度越來越成為測試人員關注的焦點。針對WDL和PDL的參數快速測試難題，“思儀科技”最新開發了波長快速掃描測試方案（圖1）。

圖 1  波長快速掃描測試方案

本方案結合公司自主研發的6317A可調諧激光源、9951A光波測試平臺，集成相關算法，優化了波長快速掃描測試。關于WDL的測試方法行業通用，但是PDL不同測試方法有不同適用場景（如下表所示），綜合各測試方法的特點，穆勒矩陣法更適合 PDL波長特性的測試，因此本方案采用穆勒矩陣法。

通過實際的測試驗證，“思儀科技”的波長快速掃描測試方案能夠快速、準確地給出的WDL、 PDL測試結果，該方案體積小，集成度高，測試儀器由多臺精簡到兩臺，并可根據測試對象、測試需求擴展光衰減器、光開關等模塊，降低了測試成本50%以上。方案最小采樣時間可以達到10μs，準確度(典型值)可以高達 ±0.02dB（測試效果圖2所示）。

圖 2 波長快速掃描測試軟件（可定制）

“思儀科技”開發的波長掃描快速測試方案可以快速完成光器件的WDL和PDL測試，可光廣泛應用于波分復用模塊（DWDM、CWDM）、波長選擇開關（WSS）和集成光芯片的研發、生產和測試，同時該方案編程控制方便，可根據實際需求定制軟件并集成，實現一機靈活多用。波長快速掃描測試方案指標如下：

·工作波長：1480nm～1610nm

·掃描速度：1nm/s~200nm/s

·最小采樣時間：10μs

·PDL準確度(典型值)：±(0.02+3% PDL) dB

·PDL重復性(典型值) ：±0.01dB

·WDL準確度(典型值) ：±0.02dB

·WDL重復性(典型值) ：±0.01dB