1dB（或0.1dB）壓縮點是功率放大器的重要指標之一，是射頻工程師關注的重點，使用矢量網絡分析儀的常規S參數測量功能，通過在點頻狀態下進行功率掃描（可以稱為“一維”掃描），可以通過觀察增益隨輸入功率的變化找到壓縮點。
圖1 點頻狀態下的增益壓縮測試
該方法的缺點是單次測量只能得到單一頻點的壓縮點，那么如何快速實現整個工作頻段的壓縮點測試呢？這就需要用到Ceyear3674系列矢量網絡分析儀的增益壓縮二維掃描功能，在該模式下，通過一次測試可以自動完成所有頻率點下的功率掃描，得到放大器在頻域的所有增益壓縮參數和線性參數。
（壓縮參數軌跡曲線）
（線性S參數軌跡曲線）
圖2 增益壓縮測量軌跡
簡明易懂的測量設置
Ceyear3674系列矢量網絡分析儀的放大器增益壓縮測量應用僅需一次設置，一次校準，一次連接就可以得到全部測量參數。向導式參數設置和校準步驟，使測量更加簡單易行。更為直觀的三維視圖Ceyear3674系列矢量網絡分析儀三維視圖可以更直觀展示增益壓縮測試結果，更形象具體的展示了放大器輸出功率隨輸入功率或頻率的變化情況，方便用戶更直觀地了解放大器的增益壓縮特性。
圖3 增益壓縮測試結果三維視圖
Ceyear3674系列矢量網絡分析儀增益壓縮測量功能專為放大器測試而開發，憑借超寬功率掃描范圍，高功率端口輸出，高線性度接收機，功率和誤差雙修正校準技術等優異的硬件性能和軟件設計，使用戶可以簡單、快速、準確地完成放大器增益壓縮測量，結合噪聲測量，有源互調測量，混頻器/變頻器測量等功能，可以全面表征放大器、混頻器/變頻器的綜合參數，并提供芯片測試等全面測試解決方案。
