石英晶體的化學成分是二氧化硅，可以用做振蕩電路，是利用它的壓電效應。當交變電壓施加于石英晶片時，晶片將隨交變電壓的頻率產生周期性的機械振動；同時，機械振動在晶片產生電荷而形成交變電流。一般來說，這種機械振動的振幅很小，而振動頻率很穩定。但當外加信號源的頻率與晶體的固有頻率相等時，晶體便發生共振，此時晶體外電路的交變電流也最大，這個現象稱為石英晶體的壓電諧振。因為晶體振蕩電路的頻率穩定性很好，所以廣泛應用于電子系統中，為其提供基準時鐘。
1.頻率測試方法
晶體的參數有很多，主要包括：振蕩頻率及其偏差、負載電容、驅動功率、等效阻抗、Ｑ值、工作溫度等，晶體振蕩電路最重要的就是保持工作在一個穩定的頻率，所以本次討論的也是針對頻率的測試。
先簡單了解下面三種儀器：示波器、頻率計、頻譜分析儀。示波器作為“工程師的眼睛”，設定觸發條件后可以抓取到波形，然后針對采集到的數據進行豐富的函數分析，其中一個函數就是測量頻率值。而頻率計顧名思義，是用來測試信號頻率的專業儀器，當然也可以獲得信號的其他信息，例如信號的電平值。最后說到的頻譜分析儀通常用在射頻領域，來觀察和分析被測信號的頻域特性，而我們常用其配合近場探頭來掃描電磁干擾的功率峰值以及找到其對應的頻點，初步判定輻射源屬性。
第一眼看上去這三種儀器用途各不相同，但其實都可以用來測試晶體振蕩電路的頻率。
如果使用示波器或者頻率計，配合無源電壓探頭點測芯片的時鐘輸入引腳，就可以測量到頻率，如下是各部分的電路結構：
其中：
C1、C2是晶體的負載電容，影響到頻率、負性阻抗等電路參數
R3、C3是無源電壓探頭的電路參數，R3是9Mohm，C3是幾個pF不等
R4、C4是示波器或者頻率計輸入通道的等效阻抗和電容，R4是1Mohm，C4是幾十pF不等
如果使用頻譜分析儀，配合近場探頭靠近晶體封裝外殼就可以探測到輻射功率峰值的頻率，這個頻率也是晶體電路的振蕩頻率。
現在問題的焦點并不是能否測試，而是哪一種儀器的測試結果更準確 ?
2.頻率測試準確性的理論分析
2.1儀器對電路的影響
如果使用示波器或者頻率計，就需要無源電壓探頭配合測試，那么首先考慮的是儀器對負載電容的影響。晶體振蕩電路的并聯諧振頻率公式：
，其中：C1、C2是負載電容，Cs是印制板的寄生電容
Cp是晶體的等效并聯電容
從上面的電路結構上看，C3、C4串聯后的電容會并聯到C1上，結果使負載電容量增大，最終導致振蕩頻率減小。而如果C3、C4的容值越小，對電路的影響也就越小。但限于目前的測試系統，C3和C4串聯后的電容值是幾個pF的級別，而C1通常是20~30pF，所以儀器對負載電容量的影響在10%以上，最終會導致測量結果產生幾個ppm（單位，百萬分之一）的頻率偏差，通常電路設計對晶體頻偏的要求是30ppm左右，所以這個影響還是不能忽視的。
但如果使用頻譜分析儀，配合近場探頭測試，因為僅在空間上有電磁場的耦合，所以儀器的影響可以忽略。從這個角度上看，頻譜分析儀更適合測量晶體頻率。
2.2儀器測量頻率的精度
從下面兩個方面來分析儀器的哪些參數影響到測量精度
-內部時鐘精度
-測量值分辨率
初步定性分析，頻率計作為專業測試設備，內部時鐘精度不差，從定期的儀器校驗結果看，精度高于1ppm，特別是它的分辨率12bit是非常高的；頻譜分析儀的時鐘精度看上去也可以，而且1Hz的分辨率滿足測試要求，但實際掃描到功率峰值的頻率是否穩定還需要驗證；而示波器的時鐘精度看上去與前兩者相差并不大，但需要考慮到：量化誤差（前端信號采集系統的8位ADC引起的信號幅度測量誤差）引起的垂直電平測量不準確性，以及采樣率不足等因素都會引起水平軸的測量誤差，最終導致頻率值測量誤差，而且其分辨率情況需要實測驗證。
3.頻率測試準確性的實際驗證
3.1測量儀器設置
現在以信號發生器的輸出作為參考基準，輸出頻率設置為24MHz，測量并計算各儀器測試的頻偏，判斷準確性。
如下圖所示，信號源的CHA作為輸出，同軸線纜連接到示波器的CH2，兩者阻抗都設置為50ohm，保證特性阻抗連續，然后使用近場探頭檢測輻射能量。
在進行頻率計相關測試時，將上圖連接到示波器的同軸線纜一端連接到頻率計輸入端口即可；
測試結果：
分析：
（1）頻率計和頻譜分析儀的測試結果都非常接近信號發生器的輸出頻率
（2）示波器測量頻率的致命性缺陷是函數測量值的位數不不足，而且數值的波動范圍很大，可以判斷不適合精確測試，它的作用應該體現在觀察波形特征。
圖1
圖2
3.2產品主板上的24MHz晶體電路頻率實測
頻譜分析儀測試環境，近場探頭靠近晶體封裝外殼。在使用示波器和頻率計時，配合電容為3.9pF的無源電壓探頭，點觸晶體引腳測試。
測試結果：
分析：
（1）頻率計和頻譜分析儀的測試結果對比，前者數值小了5ppm左右，從趨勢上分析符合理論計算，因為頻率計探頭電容的附加，必然會使晶體電路頻率減小。
（2）示波器的測試結果仍然波動很大，可以判斷不適合精確測試。
3.3驗證無源電壓探頭的電容分別為10pF、3.9pF兩種條件下，探頭對晶體頻偏的影響
測試結果：
分析：
理論計算電容越大，測試到的頻率越小，而實際測試結果10pF探頭也比3.9pF探頭的測試結果小6ppm左右，所以可以評估探頭上的這幾個pF的差別，對頻偏的影響還是很顯著的。
4總結
（1）如果是進行晶體振蕩電路的頻率測試，頻譜分析儀最合適，其次是使用頻率計配合電容較小的無源電壓探頭來測試，而示波器只能大致觀察頻率值，并不適合精確測量。
（2）如果根據實際情況判斷接觸式探頭的寄生電容對電路工作狀態影響不大，例如測量某個芯片輸出的時鐘頻率，這時候頻率計應該是優選的。首先因為頻率計不但能夠準確測量到頻率值，而且可以得到頻率波動的峰-峰值走勢，還可以測量到信號電平值，也就是說一次測量獲得的信息量更大；而頻譜分析儀只能抓到頻率值，除非是在EMI摸底測試的時候，否則輻射功率值我們通常并不關心。其次因為頻譜分析儀配合近場探頭來捕獲輻射能量的能力有限，待測時鐘信號的能量可能會被附近其他更強的輻射源淹沒，導致無法獲得時鐘頻率對應的功率峰值，也就無法測量到時鐘頻率。
（3）要注意到示波器的作用并不在于精確測量信號幅度或者頻率，它的優勢是來抓取波形，判斷時鐘電路是否工作在正常的狀態。例如當測試到晶體振蕩電路的波形不是正弦波，而接近方波時，則判斷可能是驅動功率過大，進一步計算功率數值后如果確認，就需要調整電路參數，避免損壞晶體。
所以哪種儀器最適合測試時鐘頻率 ? 這個問題還需要根據具體情況來分析，看關注點是什么，當然也可以使用多種儀器協作測試，發揮各自的優勢。
